SC-2000C ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ನುಗ್ಗುವಿಕೆ ಅಳತೆ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ

ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಪೆನೆಟ್ರೇಷನ್ ಡಿಟೆಕ್ಷನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್ 2000C ಹೈ-ಡೆಫಿನಿಷನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್ ಮತ್ತು ಪೆನೆಟ್ರೇಷನ್ ಮಾಪನ ಸಾಫ್ಟ್‌ವೇರ್‌ನೊಂದಿಗೆ ಸಜ್ಜುಗೊಂಡಿದೆ, ಇದು ವಿವಿಧ ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಕೀಲುಗಳಿಂದ (ಬಟ್ ಕೀಲುಗಳು, ಮೂಲೆ ಕೀಲುಗಳು, ಲ್ಯಾಪ್ ಕೀಲುಗಳು, ಟಿ-ಆಕಾರದ ಕೀಲುಗಳು, ಇತ್ಯಾದಿ) ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾಗುವ ಪೆನೆಟ್ರೇಷನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಕ್ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ಅಳೆಯಬಹುದು ಮತ್ತು ಉಳಿಸಬಹುದು. ಅದೇ ಸಮಯದಲ್ಲಿ, ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಮ್ಯಾಕ್ರೋ ತಪಾಸಣೆಯನ್ನು ಸಹ ಮಾಡಬಹುದು ಮತ್ತು ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಗುಣಮಟ್ಟವನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು ಎರಡು ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳನ್ನು ಒದಗಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಪೆನೆಟ್ರೇಷನ್ ಮೂಲ ಲೋಹದ ಕರಗುವಿಕೆಯ ಆಳವನ್ನು ಸೂಚಿಸುತ್ತದೆ. ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಸಮಯದಲ್ಲಿ, ಎರಡು ಮೂಲ ಲೋಹಗಳನ್ನು ದೃಢವಾಗಿ ಬೆಸುಗೆ ಹಾಕಲು ಒಂದು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಪೆನೆಟ್ರೇಷನ್ ಇರಬೇಕು. ಸಾಕಷ್ಟು ಪೆನೆಟ್ರೇಷನ್ ಸುಲಭವಾಗಿ ಅಪೂರ್ಣ ವೆಲ್ಡಿಂಗ್, ಸ್ಲ್ಯಾಗ್ ಸೇರ್ಪಡೆಗಳು, ವೆಲ್ಡ್ ಗಂಟುಗಳು ಮತ್ತು ಶೀತ ಬಿರುಕುಗಳು ಮತ್ತು ಇತರ ಸಮಸ್ಯೆಗಳಿಗೆ ಕಾರಣವಾಗಬಹುದು. ತುಂಬಾ ಆಳವಾದ ಪೆನೆಟ್ರೇಷನ್ ಸುಲಭವಾಗಿ ಬರ್ನ್-ಥ್ರೂ, ಅಂಡರ್ಕಟ್, ರಂಧ್ರಗಳು ಮತ್ತು ಇತರ ವಿದ್ಯಮಾನಗಳಿಗೆ ಕಾರಣವಾಗಬಹುದು, ಇದು ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಗುಣಮಟ್ಟದ ಮೇಲೆ ನೇರವಾಗಿ ಪರಿಣಾಮ ಬೀರುತ್ತದೆ. ಆದ್ದರಿಂದ, ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಪೆನೆಟ್ರೇಷನ್ ಅನ್ನು ಅಳೆಯುವುದು ಬಹಳ ಅವಶ್ಯಕ. ಇತ್ತೀಚಿನ ವರ್ಷಗಳಲ್ಲಿ, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ಸ್, ರಾಸಾಯನಿಕಗಳು, ಪರಮಾಣು ಶಕ್ತಿ, ಆಟೋಮೊಬೈಲ್ಗಳು, ಹಡಗು ನಿರ್ಮಾಣ ಮತ್ತು ಏರೋಸ್ಪೇಸ್‌ನಂತಹ ಆಧುನಿಕ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನಗಳ ತ್ವರಿತ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಯೊಂದಿಗೆ, ವಿವಿಧ ಕೈಗಾರಿಕೆಗಳು ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಗುಣಮಟ್ಟಕ್ಕೆ ಹೆಚ್ಚಿನ ಅವಶ್ಯಕತೆಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿವೆ ಮತ್ತು ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಗುಣಮಟ್ಟದ ಪತ್ತೆ ಯಂತ್ರೋಪಕರಣಗಳ ಉತ್ಪಾದನಾ ಉದ್ಯಮದ ಕೈಗಾರಿಕಾ ಅಪ್‌ಗ್ರೇಡ್‌ಗೆ ನಿರ್ಣಾಯಕವಾಗಿದೆ. ನಿರ್ಣಾಯಕ. ನುಗ್ಗುವ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಕೈಗಾರಿಕಾ ನವೀಕರಣವು ಸನ್ನಿಹಿತವಾಗಿದೆ. ಈ ಪರಿಸ್ಥಿತಿಗೆ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆಯಾಗಿ, ನಾವು ಅಲ್ಯೂಮಿನಿಯಂ ಮಿಶ್ರಲೋಹ ಪ್ರತಿರೋಧ ಸ್ಪಾಟ್ ವೆಲ್ಡಿಂಗ್‌ಗಾಗಿ HB5276-1984 ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕವನ್ನು ಅಭಿವೃದ್ಧಿಪಡಿಸಿದ್ದೇವೆ ಮತ್ತು ವಿನ್ಯಾಸಗೊಳಿಸಿದ್ದೇವೆ, ಇದು ಉದ್ಯಮದ ಮಾನದಂಡಗಳ ಪ್ರಕಾರ ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ನುಗ್ಗುವಿಕೆಯನ್ನು ಅಳೆಯುತ್ತದೆ (HB5282-1984 ರಚನಾತ್ಮಕ ಉಕ್ಕು ಮತ್ತು ಸ್ಟೇನ್‌ಲೆಸ್ ಸ್ಟೀಲ್ ಪ್ರತಿರೋಧ ಸ್ಪಾಟ್ ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಮತ್ತು ಸೀಮ್ ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಗುಣಮಟ್ಟದ ತಪಾಸಣೆ). ಮತ್ತು ಸೀಮ್ ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಗುಣಮಟ್ಟದ ತಪಾಸಣೆ) ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಗುಣಮಟ್ಟದ ತಪಾಸಣೆ ವ್ಯವಸ್ಥೆ 2000C. ಈ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯು ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ನುಗ್ಗುವಿಕೆಯನ್ನು ಅಳೆಯಲು ಮಾತ್ರವಲ್ಲದೆ (ವಿನಾಶ ವಿಧಾನವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು) ವೆಲ್ಡಿಂಗ್ ಗುಣಮಟ್ಟವನ್ನು ಪರಿಶೀಲಿಸಬಹುದು, ಬಿರುಕುಗಳು, ರಂಧ್ರಗಳು, ಅಸಮ ಬೆಸುಗೆಗಳು, ಸ್ಲ್ಯಾಗ್ ಸೇರ್ಪಡೆಗಳು, ರಂಧ್ರಗಳು ಮತ್ತು ಸಂಬಂಧಿತ ಆಯಾಮಗಳು ಇತ್ಯಾದಿಗಳನ್ನು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚಬಹುದು. ಮ್ಯಾಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಕ್ ಪರೀಕ್ಷೆ.